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廠商/品牌 | 產品名稱 | 產品訂貨號 | 簡要說明 | 送貨時間 | 價格 |
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德國FISCHER | 雙功能涂鍍層測厚儀 | A1531890 | 技術參數A1531890A1531891鋼或鐵上的非鐵金屬鍍層可以可以鋼和鐵上的油漆、瓷漆或塑料涂層可以可以非鐵金屬上的油漆、陽極氧化層、瓷漆或塑料涂層… | 洽詢 | 46666 | |
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德國FISCHER | 涂鍍層測厚儀 | A1531892 | 儀器平臺應用軟基基于MSWindowsCE顯示器明亮圖形顯示器（彩色、觸摸屏）鍵盤/操作4個薄膜開關，軟鍵盤，最多12個軟鍵探頭連接器10針插座通訊界面U… | 洽詢 | 39465 | |
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德國FISCHER | 臺式鍍層測厚儀 | A1531899 | 主機型號:BASEUNITMMS3AM（臺式）（A1531899）模塊型號:PERMASCOPEMMSPLUG-INMODULE，A1531900NICKELSCOPEMMSPLUG-INMODULE，A1531901SIGASCOPEMM… | 洽詢 | 51410 | |
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德國FISCHER | 線路板綜合測試儀 | A1531910 | 顯示：采用126x70mm（5.0”x2.75”）帶背光的高清晰度液晶點陣顯示，可顯示各種數據和圖形。數據儲存：儀器可儲存20，000個數據，可設置50個應用程… | 洽詢 | 71115 | |
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中國 | 測厚儀 | A1535159 | 探頭A1535150A1535151A1535152A15351503A1535154A1535155A1535156測量原理磁性渦流測量范圍（μm）0～4000～12500～10mm0～4000～1250010～200測量… | 洽詢 | 5800 | |
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中國 | 測厚儀 | A1535158 | 探頭A1535150A1535151A1535152A15351503A1535154A1535155A1535156測量原理磁性渦流測量范圍（μm）0～4000～12500～10mm0～4000～1250010～200測量… | 洽詢 | 7800.00 | |
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中國 | 涂層測厚儀 | A1531976 | 采用磁性和渦流兩種測厚方法，配F型測頭可無損傷地測量磁性金屬基本體上非磁性覆蓋層的厚度（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼上的鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、… | 洽詢 | 11850 | |
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中國 | 高精度覆層測厚儀 | A1535149 | 探頭A1535150A1535151A1535152A1535153A1535154A1535155A1535156測量原理磁性渦流測量范圍（μm）0～4000～12500～10mm0～4000～1250010～200測量… | 洽詢 | 洽詢 | |
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德國尼克斯 | 涂層測厚儀 | A1501013 | 型號A1501013A1501014基體FeFe/NFe探頭形式一體顯示LCD數字顯示測量范圍0－3000μmFe:0-3000μmNFe：0－3000μm測量精度0－50μm：≤±1μm，50－… | 洽詢 | 6900 | |
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中國 | 測厚儀 | A1535160 | 探頭A1535150A1535151A1535152A15351503A1535154A1535155A1535156測量原理磁性渦流測量范圍（μm）0～4000～12500～10mm0～4000～1250010～200測量… | 洽詢 | 洽詢 | |
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德國EPK | 磁性圖層測厚儀 | A1501015 | 1.測量范圍:0-100um0-1000um2.被測物的基體材料:普通碳素鋼3.涂層材料:非磁性金屬材料和油漆,搪瓷,塑料等. | 洽詢 | 6500 | |
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德國尼克斯 | 涂層測厚儀 | A1501026 | ■測量精度：0－2000μm：≤±2％；2000－5000μm：≤±3％■最小基體：Fe：20mm×20mm；NFe：20mm×20mm■最薄基體：Fe：0.2mm；NFe：0.05mm■最… | 洽詢 | 洽詢 | |
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德國Qnix | 涂層測厚儀 | A1530732 | 技術參數磁性基體Fe探頭（A1530732/A1530733）非磁性基體NFe探頭（A153073）測量范圍A1530732:0-2000umA1530733:0-5000um精度0-50um:≤±1um50-10… | 洽詢 | 7500 | |
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德國Qnix | 涂層測厚儀 | A1530734 | 基體Fe、NFe、NFe\NFe探頭形式一體、分體顯示LCD液晶顯示測量范圍0－2000μm0－5000μm測量精度0－2000μm：≤±2％2000－5000μm：≤±3％最小基… | 洽詢 | 7475 | |
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德國QNIX | 金屬涂層測厚儀 | A1532016 | 基體Fe/NFe探頭形式無線分體顯示LCD數字顯示測量范圍0－5000μm測量精度0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%，200… | 洽詢 | 17075 | |
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日本精工 | X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532021 | 檢測器比例計數管X射線源空冷式小型X射線管準直器0.1、0.2mmφ2種樣品觀察CCD攝像頭樣品臺移動量250（X）×200（Y）mm樣品最大高度150mm | 洽詢 | 洽詢 | |
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日本精工 | X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532022 | 可測量元素原子序數13(Al)～83(Bi)X射線聚光聚光方式X射線源管電壓50kV管電流1mA檢測器Vortex®檢測器(無需液氮)分析范圍Φ0.1mm、Φ5mm樣品觀… | 洽詢 | 洽詢 | |
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日本精工 | X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532023 | 測定元素原子序號22（Ti）~83（Bi）X射線管管電壓：50kV管電流：1.5mA檢測器半導體檢測器+比例計數管準直器4種（0.015、0.05、0.1、0.2mmΦ）樣品… | 洽詢 | 洽詢 | |
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日本精工 | X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532024 | 射線源空冷式小型X射線管準直器□型0.025x0.2mm,0.2x0.025mm○型0.05mm,0.1mm,0.2mmφ樣品表示倍率（CRT上）最大4倍可變焦距樣品平臺移動量：220（… | 洽詢 | 洽詢 | |
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日本精工 | X射線熒光鍍層厚度測量儀 | A1532025 | 射線源空冷式小型X射線管準直器型0.2x0.05mm、0.05x0.2mm型0.1mm,0.2mm、0.3mmφ樣品觀察CCD照相機過濾器Co:自動切換樣品平臺移動量:220（X）x150… | 洽詢 | 洽詢 |