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      艾測電子科技有限公司

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      廠商名稱 產品名稱 產品訂貨號 貨期(周) 產品價格
      德國EPK 涂鍍層測厚儀 A1531188 洽詢 16884

      產品特點

      涂層測厚儀

      測厚儀用于測量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):

      • 鋼鐵基體上的非磁性覆層

      • 有色金屬上的絕緣覆層

      • 絕緣基體上的有色金屬覆層

      電源:1X9V堿性電池或外接電源

      電池壽命:10000次測量

      工作環境溫度:主機0-50℃,測頭-10℃-70℃,暫時工作可達120℃

      主機尺寸/重量:150mmx82mmx35mm/270克

      *另有耐高溫測頭

      適用標準:

      DIN50891,50982,50984,ISO2178,2360,BS5411,ASTM B 499,B244-CE ISO

      技術指標

      技術特征

      A1531188

      A1531189

      A1531530

      A1531531

      MINITEST存儲的數據量

      應用行數(根據不同測頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)

      1

      1

      10

      99

      每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,可設寬容度極限值)

      1

      10

      98

      可用各自的日期時間標識特性的組數

      1

      最多500

      最多500

      數據總量

      1

      10000

      10000

      10000

      MINITEST統計計算功能

      讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

      讀數的八種統計值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk

      組統計值六種x,x,n,max,min,kvar

      組統計值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk

      存儲顯示每一應用行下的所有組內數據

      分組打印以上顯示和存儲得數據、統計值

      顯示并打印測量值、打印的日期和時間

      MINITEST 校準方法

      透過涂層進行校準(CTC

      在粗糙表面上作平均零校準

      利用PC機進行基礎校準

      補償一個常數(OFFSET

      外設的讀值傳輸存儲功能

      保護并鎖訂校準值

      更換電池時存儲讀值

      設置極限值

      公英制轉換

      連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值

      連續測量模式中測量穩定后顯示讀值

      浮點或定點方式數據傳送

      無需連接測頭即可讀數值

      組內單值延遲顯示

      連續測量模式中顯示最小值

       

      測量特性

      測頭

      量程

      低端分辨率

      容差

      最小曲率半徑(凸/凹)

      最小測量面積

      最小基體厚度

      尺寸(mm

      A1531540

      FN1.6

      01600μm

      0.1μm

      ±1%+1μm

      1.5mm/10mm

      φ5mm

      F0.5mm/N50μm

      φ15x62

      A1531541

      FN1.6P

      0—1600μm

      0.1μm

      ±1%+1μm

      只限平直表面

      φ30mm

      F0.5mm/N50μm

      φ21x89

      A1531542

      FN2(也適合銅上鉻)

      0—2000μm

      0.2μm

      ±1%+1μm

      1.5mm/10mm

      φ5mm

      F0.5mm/N50μm

      φ15x62

      A1531532

      F05

      0—500μm

      0.1μm

      ±1%+0.7μm

      1mm/5mm

      φ3mm

      0.2mm

      φ15x62

      A1531533

      F1.6

      0—1600μm

      0.1μm

      ±1%+1μm

      1.5mm/10mm

      φ5mm

      0.5mm

      φ15x62

      A1531536

      F3*

      0—3000μm

      0.2μm

      ±1%+1μm

      1.5mm/10mm

      φ5mm

      0.5mm

      φ15x62

      A1531534

      F1.6/90(管內測頭)

      0—1600μm

      0.1μm

      ±1%+1μm

      平直/6mm

      φ5mm

      0.5mm

      φ8x8x170

      A1531535

      F2/90(管內測頭)

      0—2000μm

      0.2μm

      ±1%+1μm

      平直/6mm

      φ5mm

      0.5mm

      φ8x8x170

      A1531537

      F10

      0—10mm

      5μm

      ±1%+10μm

      5mm/16mm

      φ20mm

      1mm

      φ25x46

      A1531538

      F20

      0—20mm

      10μm

      ±1%+10μm

      10mm/30mm

      φ40mm

      2mm

      φ40x65

      A1531539

      F50

      0—50mm

      10μm

      ±3%+50μm

      50mm/200mm

      φ300mm

      2mm

      φ45x70

      A1531543

      N02

      0—200μ

      0.1μm

      ±1%+0.5μmm

      1mm/10mm

      φ2mm

      50μm

      φ16x70

      A1531544

      N08Cr(適合銅上鉻)

      0—80μm

      0.1μm

      ±1%+1μm

      2.5mm

      φ2mm

      100μm

      φ15x62

      A1531545

      N1.6

      0—1600μm

      0.1μm

      ±1%+1μm

      1.5mm/10mm

      φ2mm

      50μm

      φ15x62

      A1531547

      N2

      0—2000μm

      0.2μm

      ±1%+1μm

      1.5mm/10mm

      φ5mm

      50μm

      φ15x62

      A1531546

      N1.6/90 (管內

      測頭)

      0—1600μm

      0.1μm

      ±1%+1μm

      平直/10mm

      φ5mm

      50μm

      φ13x13x170

      A1531548

      N2/90 (管內測頭)

      0—2000μm

      0.2μm

      ±1%+1μm

      平直/10mm

      φ5mm

      50μm

      φ13x13x170

      A1531549

      N10

      0—10mm

      10μm

      ±1%+25μm

      25mm/100mm

      φ50mm

      50μm

      φ60x50

      A1531550

      N20

      0—20mm

      10μm

      ±1%+50μm

      25mm/100mm

      φ70mm

      50μm

      φ65x75

      A1531551

      N100

      0—100mm

      100μm

      ±1%+0.3mm

      100mm/平直

      φ200mm

      50μm

      φ126x155

      A1531552

      CN02(絕緣基體上的有色金屬覆層)

      10—200μm

      0.2μm

      ±1%+1μm

      只限平直表面

      φ7mm

      無限制

      φ17x80

       

      物理特性

      可選附件

      持有證書

      備注

      產品規格列表
      產品訂貨號 產品介紹 符合標準 最小訂量 價格 貨期 備注
      A1531188 涂層測厚儀:應用行數(根據不同測頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數):1;數據總量:1;在粗糙表面上作平均零校準;利用PC機進行基礎校準;保護并鎖訂校準值;更換電池時存儲讀值;公英制轉換;連續測量模式中測量穩定后顯示讀值;浮點或定點方式數據傳送;連續測量模式中顯示最小值;品牌:德國EPK 1 16884 洽詢 備注
      A1531189 涂層測厚儀:應用行數(根據不同測頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數):1;每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,可設寬容度極限值)1;可用各自的日期時間標識特性的組數1;數據總量:10000;讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar;組統計值六種x,x,n,max,min,kvar;顯示并打印測量值、打印的日期和時間;透過涂層進行校準(CTC);在粗糙表面上作平均零校準;利用PC機進行基礎校準;外設的讀值傳輸存儲功能;保護并鎖訂校準值;更換電池時存儲讀值;公英制轉換;連續測量模式中測量穩定后顯示讀值;浮點或定點方式數據傳送;無需連接測頭即可讀數值;組內單值延遲顯示;連續測量模式中顯示最小值;品牌: 德國EPK 1 20693 洽詢 備注
      A1531530 涂鍍層測厚儀:應用行數(根據不同測頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數):10;每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,可設寬容度極限值)10;可用各自的日期時間標識特性的組數最多500;數據總量:10000;讀數的八種統計值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;組統計值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;分組打印以上顯示和存儲得數據、統計值;顯示并打印測量值、打印的日期和時間;透過涂層進行校準(CTC);在粗糙表面上作平均零校準;利用PC機進行基礎校準;補償一個常數(OFFSET);外設的讀值傳輸存儲功能;保護并鎖訂校準值;更換電池時存儲讀值;設置極限值;公英制轉換;連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值;連續測量模式中測量穩定后顯示讀值;浮點或定點方式數據傳送;無需連接測頭即可讀數值;組內單值延遲顯示;連續測量模式中顯示最小值;品牌:德國EPK 1 25163 洽詢 備注
      A1531531 涂鍍層測厚儀:應用行數(根據不同測頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數):99;每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,可設寬容度極限值)98;可用各自的日期時間標識特性的組數最多500;數據總量:10000;讀數的八種統計值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;組統計值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;存儲顯示每一應用行下的所有組內數據;分組打印以上顯示和存儲得數據、統計值;顯示并打印測量值、打印的日期和時間;透過涂層進行校準(CTC);在粗糙表面上作平均零校準;利用PC機進行基礎校準;補償一個常數(OFFSET);外設的讀值傳輸存儲功能;保護并鎖訂校準值;更換電池時存儲讀值;設置極限值;公英制轉換;連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別最大最小值;連續測量模式中測量穩定后顯示讀值;浮點或定點方式數據傳送;無需連接測頭即可讀數值;組內單值延遲顯示;連續測量模式中顯示最小值;品牌:德國EPK 1 28200 洽詢 備注
      A1531532 測頭:量程:0—500μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+0.7μm);最小曲率半徑(凸/凹):1mm/5mm;最小測量面積:φ3mm;最小基體厚度:0.2mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 10106 洽詢 備注
      A1531533 測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 6648 洽詢 備注
      A1531534 管內測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/6mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ8x8x170;品牌:德國EPK 1 14191 洽詢 備注
      A1531535 管內測頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/6mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ8x8x170;品牌:德國EPK 1 14191 洽詢 備注
      A1531536 測頭:量程:0—3000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 6648 洽詢 備注
      A1531537 測頭:量程:0—10mm;低端分辨率:5μm;容差:±(1%+10μm);最小曲率半徑(凸/凹):5mm/16mm;最小測量面積:φ20mm;最小基體厚度:1mm;尺寸(mm):φ25x46;品牌:德國EPK 1 10852 洽詢 備注
      A1531538 測頭:量程:0—20mm;低端分辨率:10μm;容差:±(1%+10μm);最小曲率半徑(凸/凹):10mm/30mm;最小測量面積:φ40mm;最小基體厚度:2mm;尺寸(mm):φ40x65;品牌:德國EPK 1 11349 洽詢 備注
      A1531539 測頭:量程:0—50mm;低端分辨率:10μm;容差:±(3%+50μm);最小曲率半徑(凸/凹):50mm/200mm;最小測量面積:φ300mm;最小基體厚度:2mm;尺寸(mm):φ45x70;品牌:德國EPK 1 32715 洽詢 備注
      A1531540 測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 14787 洽詢 備注
      A1531541 測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):只限平直表面;最小測量面積:φ30mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ21x89;品牌:德國EPK 1 31215 洽詢 備注
      A1531542 測頭:也適合銅上鉻;量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 17560 洽詢 備注
      A1531543 測頭:量程:0—200μ;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+0.5μmm);最小曲率半徑(凸/凹):1mm/10mm;最小測量面積:φ2mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ16x70;品牌:德國EPK 1 11478 洽詢 備注
      A1531544 測頭:適合銅上鉻;量程:0—80μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):2.5mm;最小測量面積:φ2mm;最小基體厚度:100μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 11478 洽詢 備注
      A1531545 測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ2mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 10494 洽詢 備注
      A1531546 管內測頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ13x13x170;品牌:德國EPK 1 16577 洽詢 備注
      A1531547 測頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國EPK 1 22390 洽詢 備注
      A1531548 管內測頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/10mm;最小測量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ13x13x170;品牌:德國EPK 1 16577 洽詢 備注
      A1531549 測頭:量程:0—10mm;低端分辨率:10μm;容差:±(1%+25μm);最小曲率半徑(凸/凹):25mm/100mm;最小測量面積:φ50mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ60x50;品牌:德國EPK 1 22390 洽詢 備注
      A1531550 測頭:量程:0—20mm 低端分辨率:10μm;容差:±(1%+50μm);最小曲率半徑(凸/凹):25mm/100mm;最小測量面積:φ70mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ65x75;品牌:德國EPK 1 22390 洽詢 備注
      A1531551 測頭:量程:0—100mm;低端分辨率:100μm;容差:±(1%+0.3mm);最小曲率半徑(凸/凹):100mm/平直;最小測量面積:φ200mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ126x155;品牌:德國EPK 1 28400 洽詢 備注
      A1531552 測頭:絕緣基體上的有色金屬覆層:量程:10—200μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):只限平直表面;最小測量面積:φ7mm;最小基體厚度:無限制;尺寸(mm):φ17x80;品牌:德國EPK 1 16397 洽詢 備注
      A1531553 測頭:鐵基體上未固化粉末涂層:0-1600um,低端分辨率0.1um;品牌:德國EPK 1 20690 洽詢 備注
      A1531554 測頭:鋁箔或鋁薄壁管上薄涂層;0-200um,分辨率0.1um;品牌:德國EPK 1 22688 洽詢 備注
      A1531555 用于測頭N02 Tu的專用支架;品牌:德國EPK 1 33421 洽詢 備注
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