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      艾測(cè)電子科技有限公司

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      廠商名稱 產(chǎn)品名稱 產(chǎn)品訂貨號(hào) 貨期(周) 產(chǎn)品價(jià)格
      德國(guó)EPK 涂鍍層測(cè)厚儀 A1531188 洽詢 16884

      產(chǎn)品特點(diǎn)

      涂層測(cè)厚儀

      測(cè)厚儀用于測(cè)量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):

      • 鋼鐵基體上的非磁性覆層

      • 有色金屬上的絕緣覆層

      • 絕緣基體上的有色金屬覆層

      電源:1X9V堿性電池或外接電源

      電池壽命:10000次測(cè)量

      工作環(huán)境溫度:主機(jī)0-50℃,測(cè)頭-10℃-70℃,暫時(shí)工作可達(dá)120℃

      主機(jī)尺寸/重量:150mmx82mmx35mm/270克

      *另有耐高溫測(cè)頭

      適用標(biāo)準(zhǔn):

      DIN50891,50982,50984,ISO2178,2360,BS5411,ASTM B 499,B244-CE ISO

      技術(shù)指標(biāo)

      技術(shù)特征

      A1531188

      A1531189

      A1531530

      A1531531

      MINITEST存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量

      應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測(cè)頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

      1

      1

      10

      99

      每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)

      1

      10

      98

      可用各自的日期時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)

      1

      最多500

      最多500

      數(shù)據(jù)總量

      1

      10000

      10000

      10000

      MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

      讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar

      讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk

      組統(tǒng)計(jì)值六種x,x,n,max,min,kvar

      組統(tǒng)計(jì)值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk

      存儲(chǔ)顯示每一應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

      分組打印以上顯示和存儲(chǔ)得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值

      顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間

      MINITEST 校準(zhǔn)方法

      透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC

      在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)

      利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)

      補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(OFFSET

      外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能

      保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值

      更換電池時(shí)存儲(chǔ)讀值

      設(shè)置極限值

      公英制轉(zhuǎn)換

      連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過模擬柱識(shí)別最大最小值

      連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀值

      浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送

      無需連接測(cè)頭即可讀數(shù)值

      組內(nèi)單值延遲顯示

      連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值

       

      測(cè)量特性

      測(cè)頭

      量程

      低端分辨率

      容差

      最小曲率半徑(凸/凹)

      最小測(cè)量面積

      最小基體厚度

      尺寸(mm

      A1531540

      FN1.6

      01600μm

      0.1μm

      ±1%+1μm

      1.5mm/10mm

      φ5mm

      F0.5mm/N50μm

      φ15x62

      A1531541

      FN1.6P

      0—1600μm

      0.1μm

      ±1%+1μm

      只限平直表面

      φ30mm

      F0.5mm/N50μm

      φ21x89

      A1531542

      FN2(也適合銅上鉻)

      0—2000μm

      0.2μm

      ±1%+1μm

      1.5mm/10mm

      φ5mm

      F0.5mm/N50μm

      φ15x62

      A1531532

      F05

      0—500μm

      0.1μm

      ±1%+0.7μm

      1mm/5mm

      φ3mm

      0.2mm

      φ15x62

      A1531533

      F1.6

      0—1600μm

      0.1μm

      ±1%+1μm

      1.5mm/10mm

      φ5mm

      0.5mm

      φ15x62

      A1531536

      F3*

      0—3000μm

      0.2μm

      ±1%+1μm

      1.5mm/10mm

      φ5mm

      0.5mm

      φ15x62

      A1531534

      F1.6/90(管內(nèi)測(cè)頭)

      0—1600μm

      0.1μm

      ±1%+1μm

      平直/6mm

      φ5mm

      0.5mm

      φ8x8x170

      A1531535

      F2/90(管內(nèi)測(cè)頭)

      0—2000μm

      0.2μm

      ±1%+1μm

      平直/6mm

      φ5mm

      0.5mm

      φ8x8x170

      A1531537

      F10

      0—10mm

      5μm

      ±1%+10μm

      5mm/16mm

      φ20mm

      1mm

      φ25x46

      A1531538

      F20

      0—20mm

      10μm

      ±1%+10μm

      10mm/30mm

      φ40mm

      2mm

      φ40x65

      A1531539

      F50

      0—50mm

      10μm

      ±3%+50μm

      50mm/200mm

      φ300mm

      2mm

      φ45x70

      A1531543

      N02

      0—200μ

      0.1μm

      ±1%+0.5μmm

      1mm/10mm

      φ2mm

      50μm

      φ16x70

      A1531544

      N08Cr(適合銅上鉻)

      0—80μm

      0.1μm

      ±1%+1μm

      2.5mm

      φ2mm

      100μm

      φ15x62

      A1531545

      N1.6

      0—1600μm

      0.1μm

      ±1%+1μm

      1.5mm/10mm

      φ2mm

      50μm

      φ15x62

      A1531547

      N2

      0—2000μm

      0.2μm

      ±1%+1μm

      1.5mm/10mm

      φ5mm

      50μm

      φ15x62

      A1531546

      N1.6/90 (管內(nèi)

      測(cè)頭)

      0—1600μm

      0.1μm

      ±1%+1μm

      平直/10mm

      φ5mm

      50μm

      φ13x13x170

      A1531548

      N2/90 (管內(nèi)測(cè)頭)

      0—2000μm

      0.2μm

      ±1%+1μm

      平直/10mm

      φ5mm

      50μm

      φ13x13x170

      A1531549

      N10

      0—10mm

      10μm

      ±1%+25μm

      25mm/100mm

      φ50mm

      50μm

      φ60x50

      A1531550

      N20

      0—20mm

      10μm

      ±1%+50μm

      25mm/100mm

      φ70mm

      50μm

      φ65x75

      A1531551

      N100

      0—100mm

      100μm

      ±1%+0.3mm

      100mm/平直

      φ200mm

      50μm

      φ126x155

      A1531552

      CN02(絕緣基體上的有色金屬覆層)

      10—200μm

      0.2μm

      ±1%+1μm

      只限平直表面

      φ7mm

      無限制

      φ17x80

       

      物理特性

      可選附件

      持有證書

      備注

      產(chǎn)品規(guī)格列表
      產(chǎn)品訂貨號(hào) 產(chǎn)品介紹 符合標(biāo)準(zhǔn) 最小訂量 價(jià)格 貨期 備注
      A1531188 涂層測(cè)厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測(cè)頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):1;數(shù)據(jù)總量:1;在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時(shí)存儲(chǔ)讀值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值;品牌:德國(guó)EPK 1 16884 洽詢 備注
      A1531189 涂層測(cè)厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測(cè)頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):1;每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)1;可用各自的日期時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)1;數(shù)據(jù)總量:10000;讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar;組統(tǒng)計(jì)值六種x,x,n,max,min,kvar;顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間;透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC);在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能;保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時(shí)存儲(chǔ)讀值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;無需連接測(cè)頭即可讀數(shù)值;組內(nèi)單值延遲顯示;連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值;品牌: 德國(guó)EPK 1 20693 洽詢 備注
      A1531530 涂鍍層測(cè)厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測(cè)頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):10;每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)10;可用各自的日期時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)最多500;數(shù)據(jù)總量:10000;讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;組統(tǒng)計(jì)值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;分組打印以上顯示和存儲(chǔ)得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值;顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間;透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC);在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(OFFSET);外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能;保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時(shí)存儲(chǔ)讀值;設(shè)置極限值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過模擬柱識(shí)別最大最小值;連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;無需連接測(cè)頭即可讀數(shù)值;組內(nèi)單值延遲顯示;連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值;品牌:德國(guó)EPK 1 25163 洽詢 備注
      A1531531 涂鍍層測(cè)厚儀:應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同測(cè)頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù)):99;每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,可設(shè)寬容度極限值)98;可用各自的日期時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)最多500;數(shù)據(jù)總量:10000;讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;組統(tǒng)計(jì)值八種 x(均值的均值),s,n,max,min,kvar,cp,cpk;存儲(chǔ)顯示每一應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù);分組打印以上顯示和存儲(chǔ)得數(shù)據(jù)、統(tǒng)計(jì)值;顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間;透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC);在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn);利用PC機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn);補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(OFFSET);外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能;保護(hù)并鎖訂校準(zhǔn)值;更換電池時(shí)存儲(chǔ)讀值;設(shè)置極限值;公英制轉(zhuǎn)換;連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過模擬柱識(shí)別最大最小值;連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀值;浮點(diǎn)或定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送;無需連接測(cè)頭即可讀數(shù)值;組內(nèi)單值延遲顯示;連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值;品牌:德國(guó)EPK 1 28200 洽詢 備注
      A1531532 測(cè)頭:量程:0—500μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+0.7μm);最小曲率半徑(凸/凹):1mm/5mm;最小測(cè)量面積:φ3mm;最小基體厚度:0.2mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK 1 10106 洽詢 備注
      A1531533 測(cè)頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK 1 6648 洽詢 備注
      A1531534 管內(nèi)測(cè)頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/6mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ8x8x170;品牌:德國(guó)EPK 1 14191 洽詢 備注
      A1531535 管內(nèi)測(cè)頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/6mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ8x8x170;品牌:德國(guó)EPK 1 14191 洽詢 備注
      A1531536 測(cè)頭:量程:0—3000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:0.5mm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK 1 6648 洽詢 備注
      A1531537 測(cè)頭:量程:0—10mm;低端分辨率:5μm;容差:±(1%+10μm);最小曲率半徑(凸/凹):5mm/16mm;最小測(cè)量面積:φ20mm;最小基體厚度:1mm;尺寸(mm):φ25x46;品牌:德國(guó)EPK 1 10852 洽詢 備注
      A1531538 測(cè)頭:量程:0—20mm;低端分辨率:10μm;容差:±(1%+10μm);最小曲率半徑(凸/凹):10mm/30mm;最小測(cè)量面積:φ40mm;最小基體厚度:2mm;尺寸(mm):φ40x65;品牌:德國(guó)EPK 1 11349 洽詢 備注
      A1531539 測(cè)頭:量程:0—50mm;低端分辨率:10μm;容差:±(3%+50μm);最小曲率半徑(凸/凹):50mm/200mm;最小測(cè)量面積:φ300mm;最小基體厚度:2mm;尺寸(mm):φ45x70;品牌:德國(guó)EPK 1 32715 洽詢 備注
      A1531540 測(cè)頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK 1 14787 洽詢 備注
      A1531541 測(cè)頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):只限平直表面;最小測(cè)量面積:φ30mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ21x89;品牌:德國(guó)EPK 1 31215 洽詢 備注
      A1531542 測(cè)頭:也適合銅上鉻;量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:F0.5mm/N50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK 1 17560 洽詢 備注
      A1531543 測(cè)頭:量程:0—200μ;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+0.5μmm);最小曲率半徑(凸/凹):1mm/10mm;最小測(cè)量面積:φ2mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ16x70;品牌:德國(guó)EPK 1 11478 洽詢 備注
      A1531544 測(cè)頭:適合銅上鉻;量程:0—80μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):2.5mm;最小測(cè)量面積:φ2mm;最小基體厚度:100μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK 1 11478 洽詢 備注
      A1531545 測(cè)頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測(cè)量面積:φ2mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK 1 10494 洽詢 備注
      A1531546 管內(nèi)測(cè)頭:量程:0—1600μm;低端分辨率:0.1μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/10mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ13x13x170;品牌:德國(guó)EPK 1 16577 洽詢 備注
      A1531547 測(cè)頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):1.5mm/10mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ15x62;品牌:德國(guó)EPK 1 22390 洽詢 備注
      A1531548 管內(nèi)測(cè)頭:量程:0—2000μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):平直/10mm;最小測(cè)量面積:φ5mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ13x13x170;品牌:德國(guó)EPK 1 16577 洽詢 備注
      A1531549 測(cè)頭:量程:0—10mm;低端分辨率:10μm;容差:±(1%+25μm);最小曲率半徑(凸/凹):25mm/100mm;最小測(cè)量面積:φ50mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ60x50;品牌:德國(guó)EPK 1 22390 洽詢 備注
      A1531550 測(cè)頭:量程:0—20mm 低端分辨率:10μm;容差:±(1%+50μm);最小曲率半徑(凸/凹):25mm/100mm;最小測(cè)量面積:φ70mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ65x75;品牌:德國(guó)EPK 1 22390 洽詢 備注
      A1531551 測(cè)頭:量程:0—100mm;低端分辨率:100μm;容差:±(1%+0.3mm);最小曲率半徑(凸/凹):100mm/平直;最小測(cè)量面積:φ200mm;最小基體厚度:50μm;尺寸(mm):φ126x155;品牌:德國(guó)EPK 1 28400 洽詢 備注
      A1531552 測(cè)頭:絕緣基體上的有色金屬覆層:量程:10—200μm;低端分辨率:0.2μm;容差:±(1%+1μm);最小曲率半徑(凸/凹):只限平直表面;最小測(cè)量面積:φ7mm;最小基體厚度:無限制;尺寸(mm):φ17x80;品牌:德國(guó)EPK 1 16397 洽詢 備注
      A1531553 測(cè)頭:鐵基體上未固化粉末涂層:0-1600um,低端分辨率0.1um;品牌:德國(guó)EPK 1 20690 洽詢 備注
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