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產(chǎn)品目錄
| 廠商名稱 | 產(chǎn)品名稱 | 產(chǎn)品訂貨號 | 貨期（周） | 產(chǎn)品價格 |
|---|---|---|---|---|
| 中國 | 原子力顯微鏡AFM | A1130361 | 洽詢 | 洽詢 |
產(chǎn)品特點
原子力顯微鏡（Atomic force microscopy）是一種以物理學(xué)原理為基礎(chǔ)，通過掃描探針與樣品表
面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對
探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后
發(fā)生位移。檢測器接受反射光，最后接受信號經(jīng)過計算機系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像�！�
儀器特點:
計算機全數(shù)字化控制，操作簡捷直觀。
步進馬達自動進行針尖－－樣品逼近，保證實驗圓滿成功。
深度陡度測量，三維顯示。
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計。
Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區(qū)域．
標準RS232串行接口,無需任何計算機卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達40000點/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
面原子相互作用而成像的新型表面分析儀器。一般原子力顯微鏡利用探針對樣品掃描，探針固定在對
探針與樣品表面作用力極敏感的微懸臂上。懸臂受力偏折會引起由激光源發(fā)出的激光束經(jīng)懸臂反射后
發(fā)生位移。檢測器接受反射光，最后接受信號經(jīng)過計算機系統(tǒng)采集、處理、形成樣品表面形貌圖像�！�
儀器特點:
計算機全數(shù)字化控制，操作簡捷直觀。
步進馬達自動進行針尖－－樣品逼近，保證實驗圓滿成功。
深度陡度測量，三維顯示。
納米材料粗糙度測量、顆粒徑度測量及分布統(tǒng)計。
Ｘ、Ｙ二維樣品移動平臺，快速搜索樣品區(qū)域．
標準RS232串行接口,無需任何計算機卡
樣品觀測范圍從0.001um-20000um。
掃描速度達40000點/秒
可選配納米刻蝕功能模塊。
技術(shù)指標
AFM探頭
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。
XY最大掃描范圍：標準6X6微米
0.25nm
0.03nm(云母定標)
XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米
掃描器、針尖座智能識別
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)
AFM電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購）
樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm。
XY最大掃描范圍：標準6X6微米
0.25nm
0.03nm(云母定標)
XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米
掃描器、針尖座智能識別
44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)
AFM電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）
全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購）
測量特性
| 電子學(xué)控制器: | |
| XYZ控制 | 18-Bit D/A |
| 數(shù)據(jù)采樣 | 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采樣 |
| Z向反饋 | DSP數(shù)字反饋 |
| 反饋采樣速率 | 64.0KHz |
| 高壓放大器 | 集成高壓運算放大器，最大電壓范圍+/-150V |
| 頻率范圍 | --- |
| 幅度范圍 | --- |
| 掃描速率 | 21Hz |
| 掃描角度 | 0-360度 |
| 掃描偏移 | 任意 |
| 圖像采樣點 | 256X256或512X512 |
| 步進馬達控制 | 手動和自動進退 |
| 計算機接口 | 標準RS232串行/USB |
物理特性
可選附件
持有證書
備注
產(chǎn)品規(guī)格列表
| 產(chǎn)品訂貨號 | 產(chǎn)品介紹 | 符合標準 | 最小訂量 | 價格 | 貨期 | 備注 |
| A1130361 | 原子力顯微鏡AFM：AFM探頭；樣品尺寸：直徑小等于30mm；厚度小等于15mm；XY最大掃描范圍：標準6X6微米；0.25nm；0.03nm(云母定標)；XY二維樣品移動范圍：５mm；精度0.5微米；掃描器、針尖座智能識別；44-283X連續(xù)變倍彩色CCD顯微觀察系統(tǒng)(選配)；AFM電化學(xué)針尖塊，液電池，液體輕敲式成像功能（選配）；全金屬屏蔽防震隔音箱/精密隔震平臺（選購），；品牌： 中國 | 1 | 洽詢 | 洽詢 | 備注 |
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